- 概述
- 技术参数
- 文件
- 服务和支持
- 经销商
概述
Mikron® M315X 系列黑体校准源可满足投影场景和现场应用中红外焦平面阵列探测器、热成像和 FLIR 系统测试的严苛参数要求。
M315X 系列校准源通过精密加热元件进行电阻加热，提供均匀的温度分布。这种拼合式系统包括一个控制器模块和一个单独的发射源外壳。提供两根连接电缆，黑体源和控制器之间允许间距可达 3.6 米（12 英尺）。
优点
- 可满足投影场景和现场应用中红外焦平面阵列探测器、热成像和 FLIR 系统测试的严苛参数要求
- 实现高精度和高分辨率
- 确保均匀的温度分布
- 使用精密数字 PID 控制器控制辐射源温度
- 确保校准质量
特点
- 出色的通用校准
- 大孔径尺寸
- 通过精密加热元件进行电阻加热
- RS232（标准）或 RS485（可选）串行通信输出
- 高辐射率、高均匀性
-
测量规格
温度范围
环境温度 +5°C 至 400°C（+9°F 至 752°F）
温度不确定性
8 至 14 μm 时，T < 100°C 时 ±1°C 至 T = 400°C 时 ±1.3°C
通过辐射测量进行精度校准，辐射率和传输标准的不确定性已包括在内温度分辨率
0.01°C
稳定性
静止空气环境中每 8 小时期间 ±0.1°C
提供稳定的交流电源电压以及通过出口或辐射体的最小空气流量校准源非均匀性
请参见数据手册
加热辐射体形状
平板
出口直径
M315X4：101 x 101 毫米（4 x 4 英寸）
M315X6：152 x 152 毫米（6 x 6 英寸）辐射率
8 至 14 µm 时的高效辐射率为 1.00
说明书中提供了光谱发射率图标准校准方法
辐射
温度传感器
精密铂 RTD 1/3 DIN
预热时间
300°C 环境温度以下约 30 分钟
转换速率最大 1°C 的稳定性
M315X4
T < 300°C 时约每分钟 15°
T > 300°C 时约每分钟 5°M315X6
T < 350°C 时约每分钟 10°
T > 350°C 时约每分钟 5°转换速率最大 0.1°C 的稳定性
M315X4
设定点之间约 12 至 30 分钟
M315X6
设定点之间约 30 至 40 分钟
温度范围的最长近端 -
通信/接口
远程设定点
RS232（标准）
RS485（可选）控制方法
数字 PID 控制器
-
环境规格
工作环境温度
10°C 至 40°C（50°F 至 104°F）
冷却
风扇冷却，后面板上的空气入口
工作湿度
< 90%，无冷凝
高 x 宽 x 深
M315X4：269 x 285 x 267 毫米（10.6 x 11.22 x 10.5 英寸）
M315X6：417.6 x 406.4 x 371.4 毫米（16.44 x 16 x 14.62 英寸）
控制器：195 x 432 x 576 毫米（7.67 x 17 x 22.66 英寸）重量
M315X4：7.3 千克（约 16 磅）
M315X6：10.4 千克（约 23 磅）
控制器：9 千克（约 20 磅）通过 CE 认证
是
-
电气
电源要求
M315X4：115 VAC，50 和 60 Hz，500 VA
M315X6：115 VAC，50 和 60 Hz，2000 VA
规格如有更改，恕不另行通知。并非所有型号和配置都具有所有选项和附件。所列尺寸一般仅参考标准配置和模块主体。请向销售代表确认技术规格和定制要求。Advanced Energy 对错误或遗漏概不负责。